Embedded Test 16 · ファジングと堅牢性・長時間試験 — 想定外で壊れないか

Chapter 16

ファジングと堅牢性・長時間試験 — 想定外で壊れないか

この章のゴール.

正常系ではなく異常系・極限で機器がどう振る舞うかを体系的に試す——入力ファジング、 リソース枯渇、電源・環境ストレス、そして長時間流し続けるソーク試験。 生成 AI 製ファームが最も転びやすい領域を、外から追い込めるようになること。

この章で使う既出の用語(定義は各リンク先). USB(01 章 2 節)、オラクル(01 章 8 節)、記録(01 章 4 節)、UART(05 章 1 節)、グレーボックス(08 章)、接続(09 章 2 節)、ファジング(10 章)

1. 生成 AI 製ファームの弱点は「例外」

生成 AI はハッピーパス(正常な使い方)を書くのは得意だが、想定外——不正入力、溢れ、枯渇、長時間、電源異常——の処理を抜かしがちである。ブラックボックスの堅牢性テストは、この例外の谷を狙って突き落とす作業だといえる。10 章(BLE ファジング)を一般化し、あらゆる入口・資源・環境に広げる。

2. 入力ファジング — あらゆる入口に

10 章の 4 軸(値の境界・型/書式・順序・タイミング)を、機器のすべての入口に適用する。

堅牢性テストのループ——生存確認が命綱生成境界・不正値送信全入口へ観測応答・波形生存確認まだ生きてるか落ちた瞬間の入力を保存(再現できないバグは直せない)
図16-1 入力ファジングのループ。

生存確認(10 章)はここでも命綱。撃つたびに「まだ生きているか」を別経路で確かめ、落ちた瞬間の入力を保存する(再現できないバグは直せない、02 章)。

3. リソース枯渇 — 溢れさせる

有限の資源をわざと使い切って、優雅に耐えるか破綻するかを見る。

これらは電流波形(03 章)やレイテンシの時系列(14 章)に兆候が出る(だんだん遅く/消費増)。観測を併用して早期に捕まえる。

4. 電源と環境のストレス

機能テストが素通りしても、現実の汚い電源と過酷な環境で転ぶ機器は多い。

「正常系が通る」の先——4 方向から追い込む入力ファジング全入口に境界・不正値・異常順序(10・16 章の 4 軸)リソース枯渇メモリ・バッファ・接続・スタックを溢れさせる(リークが最頻出)電源・環境ストレス低電圧・瞬断・温度・ESD・時刻を荒らして回復力を見る長時間・ソーク何時間〜何日流し、劣化・カウンタ溢れを炙り出す
図16-2 堅牢性の 4 方向。

5. 長時間・ソーク試験

短時間では出ないバグ(リーク、断片化、カウンタ溢れ、熱累積)を、何時間〜何日流し続けて炙り出す。

6. 状態の抜け穴 — 異常な順序

ファームのバグの多くは「値」でなく「順序」に潜む。

7. 何をオラクルにするか

8. 手を動かす

入力ファジングと生存確認


この章のポイント